SCD社製InGaAsディテクターは、優れた量子効率と低読み出しノイズを実現した国内で入手可能な高感度でユニークな製品です。夜間などの光量の少ない場面での低照度撮影や、SWIR領域の特徴である煙やモヤなどを透過した撮影に適し、厳しい環境条件下で高いパフォーマンスを求められる用途への導入に最適です。
画素数はVGA(15µmピッチ)とSXGA(10µm)ピッチの2タイプから選択可能で、VGAタイプでは導入の容易なビデオエンジン付きのカメラコアタイプも提供しています。
イスラエル製ですので、米国ITARフリーで入手できます。
製品情報PRODUCT INFO
赤外線計測機器・装置
- 赤外センサ、カメラの試験
- 分光測定
- 赤外カメラ
- レーザー距離計
- 防衛用途関連製品
- その他計測機器・装置
光部品・モジュール
- 光源（UV-VIS-IR-THz）
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窓・フィルタ・レンズ
- 赤外窓
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赤外レンズ
- ゲルマニウム(Ge)レンズ (透過波長帯1.8～23μm)
- シリコン(Si)レンズ (透過波長帯：1.2～15μm / 25～300μm)
- サファイア(Al2O3)レンズ (透過波長帯：0.17～6.5μm)
- フッ化カルシウム(CaF2)レンズ (透過波長帯：0.13～12μm)
- フッ化バリウム(BaF2)レンズ (透過波長帯：0.15～12μm)
- セレン化亜鉛(ZnSe)レンズ (透過波長帯：0.5～22μm)
- 硫化亜鉛(ZnS)レンズ (透過波長帯：0.37～14μm)
- カルコゲナイドガラスレンズ (透過波長帯：0.75～14μm)
- ダイヤモンドレンズ (透過波長帯：220nm～THz・マイクロ波)
- 光学フィルタ
- 赤外カメラレンズ
- センサ（検出器）
- 周辺光学系
- NDIRガス計測モジュール
光学部品向け非接触検査・評価装置
その他光学機器・部品
SWIR(近赤外0.4～1.7μm)
特長
【メーカーウェブサイト】 |
3Gイメージ倍増管との比較 |
Semi Conductor Devices(SCD)
アプリケーション
| 防衛 | セキュリティ | 産業 | 宇宙 |
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各種モデル・仕様
| InGaAsディテクタ Cardinal | |
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| InGaAsカメラエンジン SWIR Imager | |
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