気泡・脈理・結晶欠陥・などの内部欠陥を自動で3次元マッピング
測定デモ承ります
※測定デモは海外のメーカーへ委託しますので、物品の海外発送が必要です
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- 内部欠陥検査装置 Xplor 100
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赤外レンズ
- ゲルマニウム(Ge)レンズ (透過波長帯1.8～23μm)
- シリコン(Si)レンズ (透過波長帯：1.2～15μm / 25～300μm)
- サファイア(Al2O3)レンズ (透過波長帯：0.17～6.5μm)
- フッ化カルシウム(CaF2)レンズ (透過波長帯：0.13～12μm)
- フッ化バリウム(BaF2)レンズ (透過波長帯：0.15～12μm)
- セレン化亜鉛(ZnSe)レンズ (透過波長帯：0.5～22μm)
- 硫化亜鉛(ZnS)レンズ (透過波長帯：0.37～14μm)
- カルコゲナイドガラスレンズ (透過波長帯：0.75～14μm)
- ダイヤモンドレンズ (透過波長帯：220nm～THz・マイクロ波)
- 光学フィルタ
- 赤外カメラレンズ
- 赤外ファイバ(中・遠赤外用)
- Winston Cone・CPC(複合放物面集光器)
- 受光デバイス
- 機能ユニット・モジュール
- その他(チョッパ、ミラーなど)
その他光学機器・部品
内部欠陥検査装置 Xplor 100
特徴
- テレセントリック照明を用い、微細なオートフォーカス観察で、内部高さを識別した3次元マップデータを得られます
- セットした後は全て自動で測定、再現性の高い計測を行います
- 内部だけでなく表面異常の計測も可能、コート前のキズ・異常検査ができる場合があります
用途
- 光学硝材、フィルター、光学窓のような、高精度光学系の内部欠陥検査に！
- 樹脂やガラスなどの押し出し成形品などの内部脈理や不連続部位の観察に！
- 内部屈折率の分布観察や、内部応力の分布観察なども可能！
レンズオプション
| 倍率 | 0.243倍 | 0.528倍 | 等倍 | 2.00倍 |
| WD(作動距離) | 103mm | 44mm | 62.2mm | 55.9mm |
| 被写界深度 | +/-11mm | +/-1.1mm | +/-0.9mm | +/-0.3mm |
| 視野範囲 | 45.2mm | 20.8mm | 11.0mm | 5.5mm |
