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SEM観察用断面試料作成装置AMC-7800― 見やすい大画面液晶を使った拡張モデル ―

SEM観察用断面試料作成装置AMC-7800

標準タイプのミドルクラス・モデル。

見やすい大画面モニターで、誰にでも簡単にSEM用断面試料を早く確実に作製することができます。

特長
  • 簡単、早く、確実。
  • 任意の刃圧を指定できます。(2N - 60N)
  • 平面は勿論、曲面上にもケガクことが可能。

操作性
  • 簡単なティーチングによりケガキ位置を素早く決定
  • 目標のスキップ指示が可能。
  • 数十秒で決定でき、後はスタートスイッチを押すだけ

仕様
  AMC-7600 AMC-7800 AMC-8000
対象材料 各種半導体ウェハ、マスク、液晶用TFT基板
石英ガラス等の各種ガラス材料
ケガキ位置精度 ±15.0μm ±2.5μm
光学系・画像系 双眼実体顕微鏡 単眼ズーム顕微鏡+CCD
照明 ダブルライト
ガイド照明
同軸落斜照明
倍率 約15〜94倍 約22〜140(15インチ液晶モニター使用時) 約60〜400(20インチ液晶モニター使用時)
寸法 450W×780D
×550(MAX)H
450W×780D
×520(MAX)H
665W×550D
×750(MAX)H
質量 約53kg 約78kg
上記仕様は予告なく変更する場合があります。
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