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SEM観察用断面試料作成装AMC-8000 ― 高精度のハイエンドモデル ―

AMC-7800

超高精度タイプのハイクラス・モデル。
見やすい大画面モニターで、誰にでも簡単にSEM用断面試料を早く確実に作製することができます。

特長 | 操作性 | 仕様

特長

  • 超高精度。
  • 簡単、早く、確実。
  • 任意の刃圧を指定できます。(2N - 60N)
  • 平面は勿論、曲面上にもケガクことが可能。

操作性

  • 操作は標準モデルと同様。
  • 簡単なティーチングによりケガキ位置を素早く決定
  • 目標のスキップ指示が可能。

仕様

 AMC-7600AMC-7800AMC-8000
対象材料各種半導体ウェハ、マスク、液晶用TFT基板
石英ガラス等の各種ガラス材料
ケガキ位置精度±15.0μm±2.5μm
光学系・画像系双眼実体顕微鏡単眼ズーム顕微鏡+CCD
照明ダブルライトガイド照明同軸落斜照明
倍率約15~94倍約22~140(15インチ液晶モニター使用時)約60~400(20インチ液晶モニター使用時)
寸法450W×780D
×550(MAX)H
450W×780D
×520(MAX)H
665W×550D
×750(MAX)H
質量約53kg約78kg

    上記仕様は予告無く変更することがあります。

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