SEM断面試料作成システム

各種半導体ウェハ・石英ガラス・液晶ガラス基板などを前処理無しでＳＥＭ断面観察試料を短時間に精度良く作製できます。
独自のスキップケガキ方式により観察面に触れず極めて端麗な断面を短時間に精度良く作製が可能。

SEM観察用断面試料作成装置AMC-7600

コストパフォーマンスの高い標準モデル

SEM観察用断面試料作成装置AMC-7800

見やすい大画面液晶を使った拡張モデル

高分解能ウェハー専用機AMC-8000

高精度のハイエンドモデル