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アイ・アール・システム社名
アイ・アール・システム社名(英)
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ハイパースペクトラルSIシリーズ

ハイパースペクトラルSIシリーズ

本装置はSagnac式干渉計、レンズ、2次元検出器から構成されます。装置全体をスキャンすることにより、各画素のインターフェログラムを取得し、フーリエ変換を行い2次元画像の分光測定が行なえます。
黒体炉や可視光源で較正することにより絶対値での測定が可能です。
CI社の独自技術によりシンプルな光学系でコンパクトな構造を達成しました。屋外での使用が可能です。
地上で測定する場合には、回転ステージに設置して装置をスキャンします。プッシュブルーム測定も可能なので、エアボーン用途にも最適です。
測定波長により、SI-5000(中赤外)、SI-12000(遠赤外)の4種類があります。

特長

  • Sagnac式干渉計
  • プッシュブルーム対応
  • シンプルで小型な光学系
  • 屋外使用が可能
  • 多彩な測定波長
ハイパースペクトラルSIシリーズ測定原理

アプリケーション

  • 放射特性の測定(車両、航空機、船舶、地表など)
  • ガス検知
  • 燃焼物の検知
  • カモフラージュの測定

仕様

 SI-5000SI-12000
測定波長3~5μm8~11.5μm
波長分解能<50cm-1<17cm-1
検出器InSbMCT
画素数320x240
分光方式サニャック式干渉計
IFOV0.5mrad
NESR
ノイズ等価シグナル・レシオ
2.5x10-9 W・cm-2・sr-1・(cm-1)-1@4.8μm2.5x10-9 W・cm-2・sr-1・(cm-1)-1@10μm
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